• Українська
  • English

< | >

Список № 10 Том. 60     УФЖ 2015, Том. 60, № 10, стp. 1027-1036    

Стаття

Moрозовська Г.М., Oбуховський В.В., Удод О.В., Kaлінін С.В., Целев О.

1 Iнститут фiзики НАН України
(Просп. Науки, 46, Київ 03028; e-mail: anna.n.morozovska@gmail.com)
2 Київський нацiональний унiверситет iменi Тараса Шевченка, радiофiзичний факультет
(Просп. Академiка Глушкова, 4, Київ 03022)
3 Iнститут проблем матерiалознавства iм. I.М. Францевича НАН України
(Вул. Кржижановського, 3, Київ-142 03680)
4 The Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory
(Oak Ridge, TN 37831)

Дослідження електроміграції та дифузії в скануючій зондовій мікроскопії твердих електролітів

Розділ: Тверде тіло
Оригінал тексту: український

Абстракт: Проведено чисельне моделювання та аналiз локального механо-електро-хiмiчного вiдгуку твердих електролiтiв в наближеннi Больцмана–Планка–Нернста–Ейнштейна з урахуванням вегардiвського механiзму. Розрахована геометрiя є типовою для експериментiв у галузi скануючої зондової мiкроскопiї електрохiмiчних деформацiй (СЗМЕД). Розраховано частотнi спектри рiзних компонент змiщення поверхнi електролiту та глибини вiдгуку СЗМЕД, а також змiни концентрацiй донорiв, i проведено їх порiвняльний аналiз.

Ключові слова: скануюча зондова мiкроскопiя електрохiмiчних деформацiй, наближення Больцмана–Планка–Нернста–Ейнштейна, дрейф-дифузiйна теорiя, закон Вегарда.